东京热久久无码视频

東儀光電參加Amptek用戶會議-趙玉新
發布時間:2024-05-25 08:06:37

山東東儀光電儀器有限公司參加AMPTEK 2024用戶交流會議

 

山東東儀光電儀器有限公司研發技術總監及同事共同參加AMPTEK公司 202447~8日,在上海辦公室培訓室舉辦Amptek用戶交流會。會議的主題:為了讓您更好地使用Amptek產品,充分發揮產品的性能,提高用戶應用水平,市場動態及AMPTEK未來產品方向

202447日,星期13:00-17:00Amptek首席科學家Robert Redus主要針對以下四方面進行講解:

1、探測器原理及如何通過優化探測器來改善光譜儀器的性能指標

2XRF新型應用行業及國內外市場動態

3、用戶技術問題解答

4、行業動態介紹。

202448日,星期一(900-12:00),針對性問題解答。

山東東儀光電儀器有限公司技術總監同AMPTEK公司首席科學家Robert RedusAMPTEK全球銷售總監Mark Samways。就硅漂移探測器(SDD)在能量色散熒光光譜儀(EDXRF)中的應用極限能量分辨率問題進行了共同探討,探討主要內容如下:

1、Q:硅漂移探測器(SDD)的極限能量分辨率是多少?

   A:目前AMPTEK公司最先進的FAST硅漂移探測器(FAST SDD)的理論極限能量分辨率為119eV,實際使用可達到的最低能量分辨率為121eV

2、Q:做為能量色散熒光光譜儀(EDXRF)的核心器件,硅漂移探測器(SDD)的理論極限能量分辨率是否就是能量色散熒光光譜儀(EDXRF)的極限能量分辨率?

   A:是的,能量色散熒光光譜儀(EDXRF)的理論極限能量分辨率就是它所裝配的硅漂移探測器(SDD)的理論極限能量分辨率為119eV

3、Q:是否有可能通過算法或其他方法使能量色散熒光光譜儀(EDXRF)的能量分辨率小于硅漂移探測器(SDD)的能量分辨率甚至小于100eV

   A:完全沒有可能,這個想法是不可能實現的,能量分辨率是硅漂移探測器(SDD)的特性,算法無法突破硅漂移探測器(SDD)自身的極限分辨率。如果想要得到小于119eV的分辨率,硅漂移探測器(SDD)和能量色散熒光光譜儀(EDXRF)都是無法單獨實現的,唯一的方法就是波長色散熒光光譜儀(WDXRF)。

      通過本次AMPTEK公司的用戶交流會,山東東儀光電儀器有限公司在技術方面收貨頗豐,也明確了硅漂移探測器(SDD)及能量色散熒光光譜儀(EDXRF)極限理論分辨率。此感謝AMPTEK首席科學家Robert Redus AMPTEK全球銷售總監Mark Samways科學嚴謹的解答與交流。